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半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描

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半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描

半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描
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热线:18140663476
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半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描产品详情

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  • 尺寸:425*255*106mm
  • 重量:5kg
  • 电源:AC 100~240V
  • 品牌:其他
  • 类型:半导体图示仪
  • 型号:S100
  • 测试电压范围:±90uV-±300V
  • 测试电流范围:±30pA-±3A

  半导体分立器件泛指二管、三管等具有单一功能的半导体元器件,用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等电路中,是构成电力电子变化装置的核心器件之一,在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动化控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。半导体分立器件市场前景广阔,根据基材不同,半导体分立器件可分为不同类型,以硅基半导体为基材时,半导体分立器件主要包括二管(Diode)、三管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双性晶体管(IGBT)等产品,以宽禁带材料半导体为基材时,半导体分立器件主要包括:SiC,GaN半导体功率器件。从需求端来看,分立器件受益于新能源、汽车电子、5G通讯射频等市场的发展,具有较大的发展前景。

    实施半导体分立器件特性参数分析的工具之一是数字源表。数字源表可作为的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其架构还允许将其用作脉冲发生器、 波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。

利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试

丰富的半导体IV特性测试行业经验;

Q面的解决方案:二管、MOSFET、BJT、IGBT、二管电阻器及晶闸管等;

提供适当的电缆辅件和测试夹具……

 普赛斯五合一数字源表可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具,接线简单、方便操作。如需了解更多半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描的信息,欢迎随时来电咨询一八一四零六六三四七六;

 

 

以上内容为半导体分立器件测试仪+IV曲线扫描,本产品由武汉普赛斯仪表有限公司直销供应。
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