ELSZ粒度仪-大塚电子(在线咨询)-ELSZ
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- 名称大塚电子(苏州)有限公司 【公司网站】
- 所在地中国
- 联系人 曹先生
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价格
面议
点此议价
- 采购量 不限制
- 发布日期 2020-10-27 12:31 至 长期有效
ELSZ粒度仪-大塚电子(在线咨询)-ELSZ产品详情
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
用途:
高分子?化学工业领域
Emulsion(塗料?胶水)的分散?凝集控制、乳胶的表面改质
高分子电解质(聚乙烯磺酸盐?聚碳酸等)功能性的研究、功能性纳米粒子
纸?纸浆的制纸工程控制及纸浆添加材料的研究
食品工业 领域
Emulsion(食品?香料?医療?化妆品)的分散?凝集控制、蛋白质的功能性
脂质体?囊泡的分散?凝集控制、界面活性剤(胶粒)的功能性
分子量测量原理:静的光散射法(光子相关法)
静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。
测量原理指的是用光照射溶液中分子,根据所得的散射光的求出分子量。即,利用了大分子所得散射光强,小分子所得散射光弱的现象进行测量。
实际上,浓度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要实测数点的不同浓度的溶液散射強度,ELSZ粒度仪,并根据以下公式,横轴设为浓度,纵轴设为散射強度的倒数,
Kc/R(θ)为plot。这被称作Debye plot。
浓度为零,外插切片(c=0)的倒数,ELSZ粒径设备仪,并求出分子量Mw,根据初期斜面求出第二维里系数A2。
分子量为大分子时,散射強度出现角度依存性,通过测量不同的散射角度(θ)的散射强度,ELSZ-ZETA电位测试,可知出分子量的测量精度提高,ELSZ,及分子大范围的指标的惯性半径。
角度固定测量时,输入推算的惯性半径,并对角度依存测量进行相应的补正,便可提高分子量的测量精度。
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!
粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)
溶液中的粒子会呈现出 依赖于粒径的布朗运动。因此,当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。
通过光子相关法解析这种浮动,从而求出粒径或粒度分布。
ELSZ粒度仪-大塚电子(在线咨询)-ELSZ由大塚电子(苏州)有限公司提供。大塚电子(苏州)有限公司为客户提供“电技术的研发,光电系统集成产品,工业测定和分析设备”等业务,公司拥有“大塚电子”等品牌,专注于机械加工等行业。欢迎来电垂询,联系人:曹先生。