FE-FE膜厚仪-大塚电子(推荐商家)

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行*效率测试的系统。

产品特点非接触式、不*样品的光干涉式膜厚计。*、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE3000厂家，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。

产品特点非接触式、不*样品的光干涉式膜厚计。*、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

应用范围■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有机EL)

■ 半导体、复合半导体

?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料

■ 资料储存

?DVD、磁头薄膜、磁性材料

■ 光学材料

?滤光片、*反射膜

■ 平面显示器

?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

*石英材质液体比色皿，FE，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于液体样品测试（3个）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm