大塚FE3000-FE-苏州大塚电子

FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不*样品的光干涉式膜厚计。*、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

可在软件上设定激发光源的波长及步值，大塚FE3000，实现自动测量

电流-*效率曲线

电流-光通量曲线

电流-功率曲线

电流-色温曲线

电流-色坐标曲线

电流-显色性曲线

电流-电压曲线

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

积分全球/半球 ，在遭受到强大的冲击力后有可能会产生变形甚至损坏。对于这种情况，我司将不承担责任。积分半球的内侧涂有*i钡或者是Spectralon，受到污染后如需要交换可与我司联系。货期大约为1.5个月左右。

FE3000反射式膜厚量测仪原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，FE3000膜厚仪，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。

1）*石英材质液体比色皿，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于液体样品测试（3个）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

2）具有*的液体容器*装置，可实现入射光垂直入射到容器表面。