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江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,欢迎来电咨询!

性能优势:

下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,光谱膜厚仪,凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,电镀测厚仪,可测试各微小的部件。

率的jie shou qi:即使测试0.01mm2以下的样品,滁州测厚仪,几秒钟也能达到稳定性。

EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更*,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。








X射线荧光分析仪的应用

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合*定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析,欢迎来电咨询!

X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对*进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时,X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。





江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利*聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

测厚仪的应用:

1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,光谱分析仪,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,沧州欧谱从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工


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