镀层测厚仪标准片-一六仪器-标准片

MicroPioneer X射线镀层测厚仪标准片(X射线膜厚仪标准片) 、测厚仪校正片、薄片，韩国先锋镀层测厚仪标准片，XRF2000标准片，带N.I.S.T证书，可通用于英国牛津CMI、德国Fischer、美国Thermo、日本Seiko等各种X射线测厚仪。

标准片列表Standard Foil Stock List：

Ag银:0.28um，镀层测厚仪标准片，0.70um，1.00um，3.00um，5.00um，6.00um，12.00um

Au金:0.04um，0.10um，0.20um，0.40um，0.50um，0.90um，1.20um，2.40um，5.30um

Bi铋:3.56um，6.24um

Cr铬:0.07um，0.10um，0.30um，0.50um，2.50um，3.70um，4.10um，5.00um，66.90um，标准片，7.80um，8.70um

Cu铜:0.40um，1.00um，3.00um，5.40um，7.50um，10.00um，4.00um，17.00um，19.00um，30.00um，40.00um

测量头参数

1.参数→测量头→射线管50V，管压设置为3800左右，管流根据实际准直器设管流（保证Ag计数率在2200左右）

1. 准直器根据实际（确认系统准直器和仪器是否一致）

步骤：参数→测量头→准直器→勾选使与实际准直器保持一致。

2. 滤光片Ni，实际设置

测Ni/Fe标准片，标准片一六仪器有限公司，步骤：产品程式→选择→Ni/Fe→开始。得到数据与标准片数据对比，用参数→测量头→滤光片→微调Ni厚度数据，测试标准片，使测量数据与标准片数据接近。

距离调校

打开软件后从菜单中找到

菜单，标准片厂家，然后从根部下拉菜单中找到

子菜单。打开距离调校会出现距离调校样品窗口，由于我们仪器多数情况下调校会常用到标准片（其表面到测试窗口的距离为0.5mm)，元素片（其表面到测试窗口的距离为0.5mm)，装标准片的盒子（其高度为17mm）。为了方便快速调试清晰度，我们把已知的2个高度输入到距离调校样品中。