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镀层分析X射线荧光光谱特点

1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。

2.可测试超薄的镀层。

3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。

4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。

6.对分析的多镀层每层之间的材料,荧光测厚仪,要求有明显的区别

7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

8.可以对****小样品进行测试

9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样







在包含某种元素1的样品中,照射一次X射线,就会产生元素1的荧光X射线,不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多,荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点,如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度,就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候,X射线测厚仪,可以在样品中加入高纯度的二氧化硅,光谱测厚仪,作为参比样,并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。


EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的,测厚仪, 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用,可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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