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膜厚仪|电镀膜厚仪|钟表膜厚仪

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膜厚仪|电镀膜厚仪|钟表膜厚仪产品详情

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江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有****的技术,****的良将,能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询!



影响膜厚仪测量的的客观因素

金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层,虽与基体材料结合紧密,无名显界面,但声速在两种物质中的传播速度是不同的,从而造成膜厚仪的误差,且随覆盖物厚度不同,误差大小也不同。







光谱仪影响测量误差的来源


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1.系统误差的来源

(1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。

(2)标样和试样的物理性能不完全相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。

(3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属*结构不相同时,测出的数据会有所差别。

(4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,膜厚仪,混入未知合金元素而引入系统误差。

(5)要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。



膜厚仪的特点

  1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用,能够准确对焦,钟表膜厚仪,****量测效率。

  2、具有焦点距离切换作用,适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测

  3、 膜厚仪 采用检量线法和FP法,紧固件膜厚仪,两个准直器可自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可****在对焦时造成的损坏。

  4、选用Mo靶材X射线管,量测*更灵敏。


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