北京长材C扫描-北京纳克公司-长材C扫描公司
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- 名称钢研纳克检测技术股份有限公司 【公司网站】
- 所在地中国
- 联系人 刘经理
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价格
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- 采购量 不限制
- 发布日期 2022-04-12 10:11 至 长期有效
北京长材C扫描-北京纳克公司-长材C扫描公司产品详情
C扫描检测
超声C扫描成像探伤系统POCKET UT是世界上基于PDA的手持式超声A/B/C/TOFD扫描检测系统。它集现代数字超声技术、超声图像处理技术及PDA技术于一身。具有如下主要功能:带有测厚功能及大容量波形记录的数字超声波探伤仪
适用于腐蚀测厚及材料内部探伤的C-扫描功能
用于焊缝检测的TOFD功能
该系统配置灵活,允许客户一步配置到位,也可根据实际情况分步配置,先基本配置,再升级配件及功能。不但节省资金,更可灵活配置
常规超声C扫描成像检测技术
当今,对腐蚀超声检测的显示,长材C扫描哪家好,正逐渐从“单点”的A型显示和“二维线性”的B型显示向“三维体性”的C型显示方式发展,缺陷显示更加真实完整,数据更加丰富。
超声C型扫描显示,简称C扫,即特定深度扫描模式,从显示方式看是二维平面显示,长材C扫描哪家好,用平面上不同的颜色来反映波幅高度或不同的厚度信息。C扫的图像实际是由探头扫描路径的每一组B扫图像组合而成,因此C扫成像平面与B扫成像平面是互相垂直的。在C型扫描成像中,北京长材C扫描,探头不但要沿x方向扫描,长材C扫描公司,而且还要沿y方向扫描,即面扫描(二维扫描),而不是线扫描(一维扫描)。为获得某一与声束轴线垂直的断面在z=z0的图像,扫描声束应聚焦于该平面;改变扫描声束聚焦的平面,即可获得物体不同深度的C扫截面图像。
c扫描原理主要应用范围
· 晶元面处脱层 · 锡球、晶元、或填胶中之裂缝 · 晶元倾斜 · 各种可能之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等) · 覆晶构装之分析 德国KSI声扫描显微镜C-SAM(SAT)世界*的机器 WINSAM Vario III 声扫描显微镜 1~500MHz ● 非*性材料内部结构测试 ● 快速的超声波频率设置 ● 全新的操作软件简单易用 ● 紧凑的模块化设计 ● 广泛应用于半导体工业,材料测试,生命科学等领域 非*性失效分析: 视觉效果 定量分析 自动控制 -3D形貌再现 -同时观察多个层面 -显示样品的机械性能(硬度,密度,压力等) -实时超声波飞时图表(A-Scan) -纵向截面图像(B-Scan) -XY图像(C-Scan, D-Scan, 自动扫描, 多层扫描) -第二个监视器便于图像的观察和操作 -失效统计 -柱状图显示 -长度测量 -膜厚测量 -多方式图像处理 -超声波传输时间测量 -无损伤深度测量 -数字信号分析 -相位测量 -自动XYZ扫描 -自动存储仪器参数 -运用分层运算方法进行自动失效鉴别 -自动滤波参数设置 -换能器自动聚焦 -高分辨率下自动进行高速扫描
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