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超声 C 扫的基本原理

超声 C 扫检测本质上是在常规超声 A 扫检测基础上利用电子深度门记录反射回波信号，通过接收电路放大后在示波屏上显示，当探头对工件进行整体扫查后，超声C扫描探伤，即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。C 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布，通过不同的颜色标示缺陷的埋藏深度。

超声C扫描系统组成上可以分为软件和硬件两大部分，软件部分主要是超声信号处理和探头运动控制程序，包括超声采集卡驱动程序，PMAC运动控制卡驱动程序，超声信号处理程序，伺服运动控制程序等；硬件部分主要实现探头的自动扫查，由上位机、超声采集卡，PMAC运动控制卡、伺服单元、探头及其夹持装置、工件固定装置、伺服电机、机架主体以及相关的电气设备和传动设备组成。

C扫描检测超声波探伤技术对提高产品质量，促进安全生产有着十分重要的意义，超声C扫描探伤厂家，特别是随着新材料、新技术的广泛应用，各种结构零件向高参量、大容量方向发展。不仅要提高缺陷检测的准确率和可靠性，而且要把传统的无损检测技术和现代信息技术相结合，实现无损检测的数字化、图像化、实时化和智能化。因此，超声C扫描探伤价格，有必要对现有超声波探伤技术进行改进和完善，以适应各种工业应用的需要。

超声C扫描检测设备

超声C扫描检测方式通常采用常规超声探头 双轴扫查器的方式，但是随着相控阵超声技术及计算机技术的快速崛起，超声C扫描探伤多少钱，诞生了以超声相控阵技术的C扫描检测技术，即超声相控阵多阵元探头 双轴扫查器的方式。相控阵超声C扫描系统具有更高的精度和缺陷检出率，更快的检测速度和更高的图像分辨率等优点，因此其具有更高的发展空间，必定是今后超声C扫描检测的主流。