C扫描公司-北京纳克无损(在线咨询)-C扫描

超声 C 扫描的基本原理

超声 C 扫检测本质上是在常规超声 A 扫检测基础上利用电子深度门记录反射回波信号，通过接收电路放大后在示波屏上显示，C扫描公司，当探头对工件进行整体扫查后，即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。C 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布，通过不同的颜色标示缺陷的埋藏深度。

期望大家在选购C扫描检测时多一份细心，少一份浮躁，不要错过细节疑问。想要了解更多C扫描检测的相关资讯，欢迎拨打网站上的热线电话！！！

C扫描检测灵敏度要求

一套的超声波探伤设备，C扫描机构，在现场使用时，一定要具有良好的*干扰性能v否则即使实验室具有良好指标的设备，在生产现场也无法使用。对于超声波C扫描探伤仪而言，C扫描公司，机械精度是影响其探伤灵敏度高低的重要因素之一。在一般的手工水浸探伤中，经常由于人为视觉的误差，造成超声探头发射的超声波不能与受检材料很好地垂直，从而造成超声波能量传输损失，终可能对受检材料内部缺陷产生漏判、误判。为了尽量减少人为因素对探伤结果的影响，我们引进超声波C扫描探伤自动化设备。设备在生产应用之前进行严格测试机械精度，从而保证探伤结果的准确性。

纳克无损C扫描检测蓬勃发展

今年纳克无损在无损计量校准及评价业务板块继续加大投入，与国家质量基础建设（NQI）战略发展相适应，不断扩充校准设备及校准能力。主要涉及无损检测仪器、探头、对比试样的校准服务和为国内企业提供各类自动化无损检测系统综合性能的测试、评价和认证服务。

随着无损检测技术发展，不断涌现出新的无损检测仪器（比如：相控阵、TOFD、空气耦合等）和检测方法（红外检测、超声应力测试等），为了解决测量的准确性，需要对其进行计量校准，纳克不断扩充校准规范，C扫描，不仅局限于检定规程和校准规范，还扩充了ISO/EN/ASTM等标准，进一步扩大能力范围.