微电子器件材料电性能测试数字源表

在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行测试成为业内关注的普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测试系统应运而生!
普赛斯数字源表是整个测试系统的核心部分，用户可以根据材料器件不同的电流、电压，配置不同规格参数的源表和探针台。微电子器件材料电性能测试数字源表认准普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；

更gao效—灵活测试：

体积小巧，节省实验台空间
接线简单，无需繁杂的同步触发操作
适应多种测量模式，如四探针、三同轴等

更可靠—广泛应用：
利用普赛斯这套国产化数字源表+探针台的测试系统，可以为您完成任何晶圆、芯片、微小电子器件的测试。

目前，普赛斯仪表已拥有涵盖直流源表、脉冲源表、窄脉冲源、大电流脉冲源、高电流源、高电压源、大功率激光器测试电源、插卡式源表、数据采集卡、脉冲恒压源等完整的国产化数字源表解决方案，可为不同领域、不同需求的用户提供的测试支持，打造灵活的微电子材料器件测试系统!