镀金层无损X射线测厚仪
第一枪帮您来“拼单”,更多低价等你来!镀金层无损X射线测厚仪
- 名称中山市鑫天溯技术有限公司 【公司网站】
- 所在地中国 广东 中山
- 联系人 陈玉泉
- 价格 ¥138000元/件 点此议价
- 采购量 1件
- 发布日期 2023-06-13 16:12 至 长期有效
镀金层无损X射线测厚仪产品详情
- 同时可以分析:30种以上元素,五层镀层。
- 镀层厚度一般在:50μm以内(每种材料有所不同)
- 任意多个:可选择的分析和识别模型。
- 相互的:基体效应校正模型。
- 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
- 品牌:天瑞
- 加工定制:是
- 型号:Thick800A
- 测量范围:硫(S)到铀(U)
- 测量精度:1ppm到99.9%
- 灵敏度:自动
- 准确度:0.005mm
- 工作温度:15℃至30℃
- 电源:交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
- 外形尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
- 重量:90kg
生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS元素检测检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比好:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加准确
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V&plun;5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg产品说明、技术参数及配置
仪器介绍
Thick800A是集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
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