便携式IGBT测试仪-华科便携式测试台

IGBT动态参数测试系统技术要求

1、设备概述

该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二*管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。

2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件，设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件，所有资料必须准备（正本、副本）各一份，便携式IGBT测试仪现货供应，电子版一份；半导体元件全自动测试系统，可以元件在*工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。（正本、副本）技术资料，便携式IGBT测试仪价格，应至少有一份采用中文，另一份技术资料可以是英文或中文。

IGBT静态参数测试部分主要材料技术要求1）阈值电压测试电路阈值电压测试电路（仅示出IEC标准测试电路）?满足表格9测试参数要求?系统的测试原理符合相应的，系统为*式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。低压开关电源要求：Vcc=12V (针对上图电路)?可调电源：0.1～10V±1%±0.01V；分辨率0.01V?集电*电流测试电路精度：10～50mA±1%±0.5mA；50～200mA±1%±1mA；200～1000mA±1%±2mA；1000～2000mA±1%±5mA；2）集射*截止电压/集射*截止电流测试电路集射*截止电压/发射*截止电流测试电路?高压充电电源：10~2kV连续可调?支撑电容：额定电压2kV?集电*电流ICES：0.01～1mA±3%±0.001mA；1～10mA±2%±0.01mA；10～30mA±1%±0.1mA；30～300mA±1%±0.1mA?集电*电压VCES：200～1500V±2%±1V

IGBT测试装置技术要求（1）设备功能IGBT模块检测装置是用于IGBT的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的，系统为*式单元，便携式IGBT测试仪批发，封闭式结构，便携式IGBT测试仪，具有升级扩展潜能。IGBT模块检测装置是用于IGBT的静态参数测试，在IGBT的检测中，采用大电流脉冲对IGBT进行VCE饱和压降及续流二*管压降的检测。2反向恢复技术条件 测试参数： 1、Irr(反向恢复电流)：50～1000A 50～200A±3%±1A 200～1000A±3%±2A 2、Qrr(反向恢复电荷)：1～1000uC 1～50uC±5%±0。为提供稳定的大电流脉冲，采用了支撑电容补偿及步进充电的方法，解决IGBT进行VCE饱和压降及续流二*管压降的检测问题。