回收KEITHLEY2182A 纳伏表

回收KEITHLEY2182A 纳伏表
东莞市誉铭电子仪器有限公司
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Keithley 6200/2182A 系列低电阻配置
连接时，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一台仪器一样运行。2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具，比其他解决方案具有更显著的优势。
2182A/622X 组合也非常适合许多纳米技术应用，因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率，否则可能会导致结果无效，甚至损坏 DUT。

622X/2182A组合的应用
• 容易协调仪器而且直观的软件实例简 化了许多应用的设置和操作。
• 10nΩ～100MΩ电阻测量范围。一种测 量系统可用于宽范围器件。
• 以低噪声性能替代用于测量电阻的交 流电阻桥和锁定放大器。
• 以50μs的窄脉宽调整脉冲和测量（仅 6221）。
• 测量微分电导的速度比以前的方案快 10倍而且噪声较低。微分电导是用于 描述衬底材料能态密度的半导体研究 的重要参数。
• Delta模式使电阻测量中的噪声降低了 1000倍。
• 对于低阻霍尔测量，622X/2182A组 合的delta工作模式具有业界的 噪声性能和接触电位对于较高 阻霍尔测量（大于100MΩ）,4200- SCS能取代电流源、开关和多种高阻电压测量通道。这提供了带预编程测 试项目的完整方案。

特点
测量电阻范围为 10nΩ 至 100MΩ    
同步的电流脉冲源，测量时间短至 50μs    
增量模式电流反向、电阻测量技术
微分电导测量    
纳伏表和电流源接口无缝配合    
增量、微分电导和脉冲模式产生的电流瞬变

优势
测量范围非常广，专门用于超低电阻测量，以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料。
限元器件（如纳米器件和纳米材料）中的功耗，如果以非常低的功率电平进行测试，这些元器件很容易损坏。
通过消除热偏移影响以及将读数噪声降低到 30nV p-p 噪声（典型值），进行的超低电阻测量。可以对多个读数进行平均，以更大程度地降低噪声。
比其他电导测量技术的速度快十倍，噪声更小。无需平均多次扫描的结果，即可实现准确的测量。
在进行电导与电阻测量时，两台仪器可以像一台仪器一样运行。
可以检定可易被电流尖峰损坏的设备。
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