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数字源表iv扫描miniled电性能
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- 名称武汉普赛斯仪表有限公司 【公司网站】
- 所在地中国 湖北 武汉 江夏区
- 联系人 周鹏
- 价格 ¥26001元/台 点此议价
- 采购量 1台
- 发布日期 2024-05-20 11:27 至 长期有效
热线:18140663476
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数字源表iv扫描miniled电性能产品详情
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- 工作环境 :25±10℃
- 测试范围 :0.3mV-300V/100pA-1A
- 测试精度:0.1%
- 品牌:其他
- 电路:数字集成电路测试仪
- 功能:参数测试仪
- 安装方式:台式
- 型号:S100
数字源表iv扫描miniled电性能概述
LIV 即光电特性,是验证激光二管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。
根据Laser Diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。
普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心,结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。
需要测试的参数:
驱动电流I,正向压降Vf
光功率Po
阈值电流Ith
拐点Ikink,背光电流Idark
需要仪器列表:
S型国产源表
积分球
可变光源
软件
高校相关Z业
微电子,材料Z业
有关数字源表iv扫描miniled电性能的更多信息请咨询一八一四零六六三四七六
以上内容为数字源表iv扫描miniled电性能,本产品由武汉普赛斯仪表有限公司直销供应。
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