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六安封装测试-安徽徕森快速检测-ic封装测试

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就封装形式而言,它属于已有封装形式的派生品,因此可直接按照现有封装形式分为四类:框架封装形式、硬质基板封装形式、软质基板封装形式和芯片级封装。几年之前封装本体面积与芯片面积之比通常都是几倍到几十倍,但近几年来有些公司在BGA、TSOP的基础上加以改进而使得封装本体面积与芯片面积之比逐步减小到接近1的水平,所以就在原来的封装名称下冠以芯片级封装以用来区别以前的封装。半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。也可称为终段测试Final Test.在此之前,由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测Probe Test。


封装完成后进行成品测试,通常经过入检、测试和包装等工序,后入库出货。典型的封装工艺流程为:划片 装片 键合 塑封 去飞边 电镀 打印 切筋和成型 外观检查 成品测试 包装出货。半导体封装经历了三次重大革新:次是在上世纪80年代从引脚插入式封装到表面贴片封装,它*大地提高了印刷电路板上的组装密度;第二次是在上世纪90年代球型矩阵封装的出现,满足了市场对高引脚的需求,改善了半导体器件的性能;芯片级封装、系统封装等是第三次革新的产物,其目的就是将封装面积减到。Dual此封装形式的特点是引脚全部在两边,ic封装测试,而且引脚的数量不算多。它的封装形式比较多,半导体封装测试,又可细分为SOT、SOP、SOJ、SSOP、HSOP及其他。


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