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便携式IGBT测试仪-华科IGBT测试仪

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便携式IGBT测试仪-华科IGBT测试仪

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便携式IGBT测试仪-华科IGBT测试仪产品详情

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IGBT动态参数测试系统技术要求

1、设备概述

该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二*管等)的动态参数测试,便携式IGBT测试仪现货供应,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。

2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件,设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件,所有资料必须准备(正本、副本)各一份,电子版一份;华科智源IGBT测试仪制造标准华科智源IGBT测试仪HUSTEC-1200A-MT除满足本技术规格书的要求外,在其设计、制造、试验、检定等制程中还应满足以下标准的版本。(正本、副本)技术资料,便携式IGBT测试仪加工,应至少有一份采用中文,另一份技术资料可以是英文或中文。


IGBT半导体器件测试系统的主要应用领域概括如下:

?半导体元器件检测中心——应用本公司测试系统可扩大检测中心的检测范围、提高检测效率,提升检测水平,便携式IGBT测试仪批发,增加经济效益;

?半导体元器件生产厂 —— 应用本公司测试系统可对半导体元器件生产线的成品进行全参数的测试、筛选、分析,以确保出厂产品的合格率;

?电子电力产品生产、检修厂——应用本公司测试系统可对所应用到的半导体元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,便携式IGBT测试仪,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;

?航天、领域 ——— 应用本公司测试系统可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;


参数名称符号参数名称符号

开通延迟时间td(on)关断延迟时间td(off)

上升时间tr下降时间tf

开通时间ton关断时间toff

开通损耗Eon关断损耗Eoff

栅*电荷Qg

短路电流ISC//

可测量的FRD动态参数

参数名称符号参数名称符号

反向恢复电流IRM反向恢复电荷Qrr

反向恢复时间trr反向恢复损耗Erec


便携式IGBT测试仪-华科IGBT测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司是从事“IGBT测试仪,功率器件测试仪,首件检测仪”的企业,公司秉承“诚信经营,用心服务”的理念,为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询!联系人:陈少龙。5系统应配有内置ups,保证计算机系统在电网短时间掉电情况下,为系统供电0。

以上内容为便携式IGBT测试仪-华科IGBT测试仪,本产品由深圳市华科智源科技有限公司直销供应。
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