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芯片检测显微镜产品介绍

采用无限远光路系统，配置了落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察，尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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芯片检测显微镜——芯片检测

倒装芯片封装的不良状况无损分析

在倒装芯片的焊接中，组装后的焊接部分和模块无法用可见光检查。但是如果使用近红外线显微镜，芯片检测*显微镜公司，则可以在不*封装的前提下，透过硅观察IC芯片内部。只要置于显微镜下，就可以轻松进行不良状况分析。对必需用FIB（Focused Ion Beam）处理位置的也很有效。

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芯片检测显微镜的配置

芯片检测显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜，芯片检测*显微镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，芯片检测*显微镜价格，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。

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