轨道交通用IGBT测试仪-华科IGBT测试设备

为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？

当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，轨道交通用IGBT测试仪加工，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。（2）主要技术参数1）基本参数功率源：5000V1200A2）栅*-发射*漏电流IGESIGES：0。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，轨道交通用IGBT测试仪，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。

4验收和测试3)验收试验应在-10～40℃环境温度下进行，验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。4)测试单元发货到买方前，卖方应进行出厂试验。数据采集后，后台软件自动及时绘出相应图表，以方便现场判断使用。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估，轨道交通用IGBT测试仪厂家，通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。否则，需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案，直至买方评估合格。

测量目的：对模块的电压降参数进行检测， 可判断模块是否处于正常状态。功率模块的VCE-IC特性曲线会随着器件使用年限的增加而变化，饱和压降Vcesat会逐渐劣化。1～200AVge栅*电压-30V～30V-30～0V±1%±0。因此，定期检测可*发现功率模块故障。且变流器由多个模块组成，由于个体差异，大电流情况下的参数也会存在个体差异。因此，测量大电流情况下的各个模块实际技术参数，进行跟踪管理，可有效保障机车中间直流环节可靠运行。IGBT模块VCE-IC特线（单管），Vcesat随电流变大而*。