S型源表用于半导体场效应晶体管IV特性测试

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S型源表用于半导体场效应晶体管IV特性测试

名称武汉普赛斯仪表有限公司【公司网站】
所在地中国湖北武汉江夏区
联系人周鹏
价格 ￥26001元/台 点此议价
采购量 1台
发布日期 2024-04-09 11:28 至长期有效

热线：18140663476

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S型源表用于半导体场效应晶体管IV特性测试产品详情

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测试范围 :0.3mV-300V/100nA-1A
测试精度 :0.1%
输出功率:30W
品牌:其他
电路:数字集成电路测试仪
功能:参数测试仪
安装方式:台式
型号:S100/S200/S300

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二管，晶体管，场效应管等。直流I-V测试是表征微电子器件工艺及材料特性的基础，通常使用I-V特性分析或I-V曲线来决定器件的基本参数。

分立器件I-V特性测试的主要目的是通过实验帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。在半导体制程的多个阶段都有应用，如金属互连，镀层阶段，芯片封装后的测试等。

普赛斯仪表开发的半导体分立器件I-V特性测试方案，由一台或两台源精密源测量单元（SMU）、夹具或探针台、上位机软件构成。以三端口MOSFET器件为例，配套以下设备：

两台S型数字源表

四根三同轴电缆

夹具或带有三同轴接口的探针台

三同轴T型头

I-V 测试内容和所需设备

需要测试的参数：
输出特性曲线

转移特性曲线

跨导 gm

击穿电压 BVDS

需要仪器列表：
SMU 源表

探针台或夹具

Easy start上位机软件

高校相关Z业
测控，微电子

电气，自动化，机械

所有开设模拟电路课程的Z业

以上内容为S型源表用于半导体场效应晶体管IV特性测试，本产品由武汉普赛斯仪表有限公司直销供应。

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