宿州测厚仪-电镀膜厚仪-一六仪器(推荐商家)

一六仪器 *测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中*种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测*薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不*覆层也不*基材，检测速度快，电镀膜厚仪，能使大量的检测工作经济地进行。

江苏一六仪器有限公司 *镀层测厚检测 欢迎来电详询！

X射线荧光光谱分析可以非*性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案

X射线荧光光谱测厚仪操作流程:

1.打开仪器电源 开关

2.打开测试软件

3.联机

4.打开仪器高压*，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右

5.待机30分钟

6.打开测试腔放入标准元素片Ag，荧光测厚仪，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰

7.点击峰位校正图标按照提示进行操作

8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式

9.点击资料图标，根据客户需求调整相关测量参数

进而达到测试要求位置

11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，宿州测厚仪，使得软件测试画面尽可能清晰

12.开始测量：点击开始测试图标，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试

13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差

14.生成报告：点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告

15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈