芯片特性测试VI源表

芯片特性测试VI源表优势：

四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，电流100pA~1A，电压0.3mV~300V，准确度为0.1%；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；

源表突出特点：使用一台仪器进行多种测量 ；

数字源表功能：

①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。

②四象限工作，可作为源或负载

普赛斯S型数字源表应用：分立半导体器件特性测试，电阻、二管、发光二管、齐纳二管、PIN二管、BJT三管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；

普赛斯源表应用方案：二管IV测试、激光二管LIV测试、三管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、电化学循环伏安测试；

额外功能（软件实现的）：二管IV扫描及参数分析、三管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等；

芯片特性测试VI源表特点

5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位

四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

S型数字源表技术参数

输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：&plu*n;30V（≤1A量程），&plu*n;300V（≤100mA量程）；

电流源：&plu*n;1.05A（≤30V量程），&plu*n;105mA（≤300V量程）；

过量程： 105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻1KΩ，输出电压偏移<80uV；

Z大采样速率：1000 S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作环境：25&plu*n;10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm宽 × 425mm长；

有关芯片特性测试VI源表的更多信息，请联系普赛斯仪表销售专员一八一四零六六三四七六为您解答：

用途：

结构：

原理：

额外功能（软件实现的）：

应用领域：

应用方案

替代方案：

源表变形

 
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