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涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理

目前涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理基本是以下几种: 1. 性测厚法:利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵(一般在10万以上)。适用于一些特殊环境,各项技术参数要求相对比较高,使用范围相对狭窄。 2. 超声波测厚法:利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵,测量精度也不高,国内暂时还没有投入生产。 3. 微波激光测厚法:正在研发中。 4. 电解测厚法:需要*涂层,属于有损检测,基本上已弃用。 5. 涡流测厚法:利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。 6. 磁性测厚法:适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪,涂料仪器供货商,这种方法测量结果精度高。 目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。


非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度

当检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如:铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳*氧化层或涂层时,我们用铝基测厚仪。 高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻*也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,涂料仪器,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。


测量: 光泽度仪有多种测量模式,以NHG268光泽度仪为例,此仪器的三种测量模式为“基本模式”、“统计模式”、“连续模式”。在主菜单中点击“模式选择”,进入以下界面。 基本模式:的样品测量模式,涂料仪器订购,属于单次测量,每测一次保存一条记录,此模式下测量的记录可以作为“统计模式”测量的标准。同时可以显示组测量数据。 统计模式:具有统计评估功能的测量模式,能对单个样品进行多次测量。差值开 关打开还能与标样进行比对得出结论。 连续模式:在此模式下连续测量次数可设置99次,且可设置每次测量间隔时间,当按测量键开始测量时,涂料仪器批发,仪器会根据设置好的间隔时间自动测量,达到设置的次数停止。如测量过程中再次按测量键可选择暂停或结束本次测量。可测面积大的样品,用于评估样品的均质性。


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