浪声镀层分析仪 X射线荧光测厚仪

产品简介

镀层分析仪,X射线荧光测厚仪适用于镀层厚度测量及材料分析，具有无损，可靠，高生产力，高灵活性等优点，可用来定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。

详情介绍

镀层分析仪,X射线荧光测厚仪

品牌：LANScientific/浪声

型号：TrueX COAT2

产品简介：

      苏州浪声科学仪器有限公司凭借多年XRF技术研发经验，融合镀层市场需求，设计岀的一款性能好的手持式XRF仪器。 TrueX COAT适用于金属厚度测量及材料分析，具有无损，可靠，高生产力，高灵活性等优点，可用来定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。

镀层分析仪,X射线荧光测厚仪

产品特性：

多形式的数据输出：可以以PDF格式或者Excel格式制作分析数据报告。使用Excel格式导出数据时，还可在表格中对数据进行详细确认和编辑。用户还可自定义创建报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。

完善的安全防护：在测量过程中，仪器左右两侧辐射指示灯自动呼吸闪烁，内置DoubleBeam™ 技术自动感知仪器前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级。准确可靠的定性定量方法，集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等算法，使得仪器不仅测量速度更快，测量准确性更高，测量一致性更强。

进口探测器：仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器，噪音小，可灵活地应对未来镀层结构。