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2.2反向恢复技术条件测试参数：1、Irr(反向恢复电流)：50～1000A50～200A±3%±1A200～1000A±3%±2A2、Qrr (反向恢复电荷)：1～1000uC1～50uC±5%±0.1 uC50～200uC±5%±1 uC200～1000uC±5%±2 uC3、trr(反向恢复时间)：20～2000ns20～100±5%±1ns100～500±5%±2ns500～2000±3%±5ns4、Erec(反向关断能量损失)：0.5～1000mJ0.5～1mJ±5%±0.01mJ1～50mJ±5%±0.1mJ50～200mJ±5%±1mJ200～1000mJ±5%±2mJ测试条件：1、正向电流IFM：50～1000A50～200A±3%±1A200～1000A±3%±2A2、-di/dt测量范围：200～10000A/us3、反向关断峰值电压VRRpk：200～1000V±3%±2V4、dv/dt测量范围：100～10000V/us

3.1开通时间Ton测试原理框图图3-1开通时间测试原理框图其中：Vcc 试验电压源±VGG 栅*电压C1 箝位电容Q1 陪测器件（实际起作用的是器件中的续流二*管）L 负载电感 ：100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC 集电*电流取样电流传感器DUT 被测器件开通时间定义（见下图）：栅*触发信号第二个脉冲上升的10%到集电*电流IC上升到10%的时间间隔为开通延迟时间td （on） ，集电*电流IC上升的10%到90%的时间间隔即为电流上升时间tr ，变频器用IGBT测试仪加工，则ton= td （on） tr

IGBT动态参数测试系统技术要求

1、设备概述

该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二*管等）的动态参数测试，变频器用IGBT测试仪厂家，以表征器件的动态特性，变频器用IGBT测试仪价格，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。

2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件，设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件，所有资料必须准备（正本、副本）各一份，天津变频器用IGBT测试仪，电子版一份；（正本、副本）技术资料，应至少有一份采用中文，另一份技术资料可以是英文或中文。