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数显卡尺和各按键工作是否正常

数显卡尺1)擦干尺身表面,清洁各测量面

2)松开紧固螺钉,移动尺框,检查显示屏和各按键工作是否正常

测量

1)按开关键打开电源

2)按公英制转换键选择所需单位制

3)移动尺框,使两外测量面手感接触后按置零键置零,防水数显卡尺批发,即可进行正常测量。

读数方法

直接在LCD显示窗读取所测值。

数显卡尺 详细信息

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外测量示值误差——用步距规或尺寸分布

外测量示值误差——用步距规或尺寸分布适宜的一组量块(不少于5件)在外量面内侧(阿贝误差小,在量面外侧检外量面平行度)检验其外测量示值误差,其误差应不超过标准规定的*限(与测量范围有关,0-100mm为±0.02mm; >100-300mm为±0.03mm);

内测量示值误差——用小环规(直径3-4mm)和步距规相结合检验内测量示值误差,这是国际通用检验方法。但我国多数卡尺(防水数显卡尺、带表卡尺、或游标卡尺)生产厂家和用户,并未认真检验内测量示值误差,只检验10mm处内量爪尺寸或这一点的示值误差,以至多数卡尺内测量示值误差较大(与国外卡尺相比,差距较大)。


陶瓷量块长度的直接测量

陶瓷量块因材料的特殊性,它的微观结构中分布着许多*微细的气孔,容易排除空气达到很好的研合效果。对于二等以上的陶瓷量块,防水数显卡尺定制,通常采用柯氏干涉仪直接测量陶瓷量块长度。采用柯氏干涉仪测量量块的长度,由于研合平晶一般为玻璃平晶,需要对材料差异进行修正。材料差异修正值(修正量C)与量块材料、表面粗糙度、研合质量等特性密切相关,要准确测得陶瓷量块的长度,不能采用钢量块和玻璃平晶研合时的修正量C,要通过实验的方法确定陶瓷与玻璃的修正量。陶瓷量块研合在玻璃平晶上时,其研合厚度t与陶瓷量块研合在陶瓷平板上的研合厚度t是不相同的,光在不同材料表面反射时,会产生位相跳跃,防水数显卡尺厂家*,设其引起的测量误差为Ⅳ,则用柯氏干涉仪测量陶瓷量块长度时的修正量c,=N t,一t:。


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