HXWQ-1型反复弯曲试验装置（硅钢片、薄板型）

专利产品，专利号：ZL 201220009888.1

参数及功能数据：

1、试样尺寸长为280～320mm，宽为20～30mm；

2、弯曲半径可调换，半径分别为1mm、2.5mm、5mm、7.5mm、10mm；

3、反复弯曲次数通过计数器自动计数（机械或电子，有复位置零功能），计数准确。每20次，误判不超过1次；

4、计数器通过装置弯曲手柄的动作来判断次数；

5、采用砝码配重式结构，通过砝码配重加载在试样上，给试样加载张力；

6、配重有平台支撑，当配重与试样连接后，平台可下降，配重加载在试样上；

7、带有弯曲半径的夹块间隙要既能保证试样延弯曲半径弯折，也要保证夹块与试样的摩擦力不减小配重对试样的张力；

8、在反复弯曲过程中，施加试样张力的配重砝码不产生晃动；

9、承载砝码的部件固定为500g&plu*n;10g质量；

10、上下钳头安装导电接线柱，以便接电阻测量仪器；

11、绝缘：为保证电阻测量，导块、R块、R块座等（除上下钳头）与试样可能接触部件均做绝缘处理，其中R块用如陶瓷、玻璃等绝缘硬质材料制成；

12、具有插销保险功能，需要时使弯曲臂可自行竖立，不会倒下造成安全隐患；

13、R块座一边固定，一边可调，****调整距离不低于3mm；

14、R块顶部至导块距离约25mm，导块高度25mm-30 mm, R块高度约25mm。