红外荧光光谱仪厂择优推荐「在线咨询」

OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数

● 激发光源：HeCd激光器

● 激发光功率： 20mW

● 激发波长：325nm

● 瑞利散射截止滤光片，ODgt;6

● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）

● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）

● 波长准确度：±0.2nm

● 波长重复性：±0.1nm

● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm

● 可选配闭循环超低温制冷机，*低温度可达2K

● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量

● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪

OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以*Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地****了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10，000：1 以上。

OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光*产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用ystems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合*的光路设计，红外荧光光谱仪厂，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。