荧光x射线镀层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-荧光测厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

*移动平台可*测试点，重复*精度小于0.005mm

采用高度*激光，可自动*测试高度

*激光确定*光斑，荧光测厚仪，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加****

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏*传感器保护

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

电镀液测量杯整套含两个测量杯，可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用，高纯元素本底****测量精度和检出限。电镀液测试样品杯，严格控制了容量和溢出物的处理，用来测试药水溶液中金属离子的浓度；使用方便简捷，*。

测试膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，迈拉膜，麦拉膜，XRF测试薄膜，x荧光镀层测厚仪，XRF样品膜，荧光测厚仪，样品薄膜，EDX薄膜，EDX样品薄膜，ROHS检测膜，光谱仪样品薄膜；是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。*样品薄膜是使用方便简捷，*的测试用样品薄膜，广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X射线荧光光谱测厚仪 X射线的产生

X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。

产生X射线的****简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，荧光x射线镀层测厚仪，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成*光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量*，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是*化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了*谱中的特征线，此称为特性辐射。