冠测精电(查看)-新型介质损耗测试仪的使用方法技术参数

6、输出功率：1.5KVA

7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围：内接试验电压：

tgδ：99.9%

Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF

2.5KV

Cx＜0.3uF

0.5KV Cx＜1.5uF

外接试验电压：

由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%

电容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%

Cx ：0.1pF

12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM

一、性能特点：

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进

■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进

■ 测试精度0.05%

■ 高达200次/s的测量速度

■ 320×240点阵大型图形LCD显示

■ 五位读数分辨率

■ 可测量22种阻*参数组合

■ 四种信号源输出阻*

■ 10点列表扫描测试功能

■ 内部自带直流偏置源

■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)

■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

■ V、I测试信号电平监视功能

■ 图形扫描分析功能

■ 20组内部仪器设定可供储存/读取

■ 内建比较器，介质损耗测试仪jyc参数报价，10档分选及计数功能

■ 多种通讯接口方便用户联机使用

■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)

■ 中英文可选操作界面

■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

二、主要用途：

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻*参数评估和性能分析。

半导体元件：变容二****管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻*评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

输出阻*

10Ω， 30Ω， 50Ω， 100Ω

基本准确度

0.1%

L

0.0001 uH ～ 9.9999kH

C

0.0001 pF ～ 9.9999F

R，X，Z，DCR

0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显*围

Y， B， G

0.0001 nS ～ 99.999 S

D

0.0001 ～ 9.9999

Q

0.0001 ～ 99999

θ

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

材料介电性能试验测控系统试验报告(非接触法)

序号

频率

介电常数

介质损耗

试样厚度(mm)

电****直径(mm)

1

1KKHZ

4.38E 00

3.78E-03

3.00E 00

50

2

1KKHZ

4.38E 00

3.78E-03

3.00E 00

50

3

1KKHZ

4.47E 00

3.94E-03

3.00E 00

50

4

1KKHZ

4.47E 00

3.94E-03

3.00E 00

50

5

1KKHZ

4.47E 00

3.94E-03

3.00E 00

50

6

1KKHZ

4.47E 00

3.94E-03

3.00E 00

50

接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（选件）