杭州In line xray 半导体检测-奥弗斯莱特光电

　　x-ray检测设备，无损探伤检测机

　　x-ray检测设备无损检测(NondestructiveTesting，NDT)，又称无损探伤，In line xray 半导体检测，是指在不损伤被检测对象的条件下，利用材料内部结构异常或缺陷存在所引起的对热、声、光、电、磁等物理量的变化，来探测各种工程材料、零部件、结构件等内部和表面缺陷。无损检测被广泛用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件的检测。

　　产生x-ray的****简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成*光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量*，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是*化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了*谱中的特征线，此称为特性辐射。

　　SMT电子制造业*进口X-RAY检测设备，可清晰观察到半导体内部的电子、原材料的质量检查与缺陷检测。其用于连接状态，如焊线、芯片键合(粘晶)、分层、汽泡、焊点开路与短路等缺陷。ViewX2000高解析度x-ray检测仪x-ray(SMT**机)采用高解析度增强屏和密封微焦X射线管组合的结构，通过x-ray非*性透1视检查，实时观察到清晰的图片。另外，强大的软件测量功能使得检查效率大大****。除此之外，CNC功能可以使检测过程变得更轻松、快捷。