四探针电阻率测试仪m-6测试方法-冠测精电
第一枪帮您来“拼单”,更多低价等你来!四探针电阻率测试仪m-6测试方法-冠测精电
- 名称北京冠测精电仪器设备有限公司 【公司网站】
- 所在地中国
- 联系人 管总
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- 采购量 不限制
- 发布日期 2019-03-25 16:17 至 长期有效
四探针电阻率测试仪m-6测试方法-冠测精电产品详情
满足标准:电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验
本测试装置是根据*GB3048.2—2007的规定而研制成功的,是测定电线电缆金属导体电阻率性能的装置,其性能完全符合GB3048.2—2007技术要求,是集电子技术、微处理机、自动检测技术和新型样品夹持装置于一体的智能化高新技术产品,解决了传统检测中由于单臂双臂电桥而产生的操作繁琐,平衡费时,人工计算、工作效率低等问题,采用了****的*的电流—电压降四端子测量法,消除了连接导线电阻和接触电阻所带来的误差,可以*地测定实心铜铝及其合金导体材料的体电阻率,质量电阻率以及单位长度电阻。
本测试装置为综合性测试系统,设计为测试台结构,主要由****的多功能样品夹具,*数字电压表、宽量程高稳定直流恒定电流源,微处理机系统等部分组成,多功能样品夹具由特殊导电合金精密加工而成,接触良好,导电性能好,具有*精度高等特点,适合用于从φ1mm—φ40mm宽范围导体的调节和夹持,*数字电压表灵敏度高、测量范围由0.1μV—2V,精度达0.05%,用240*128液晶屏显示。
本装置具有测试精度高、操作方便,屏幕显示、人机对话、自动进行数据处理打印等特点,适合于各电线电缆厂,合金材料厂、高等院校、科研单位对金属导体材料的研究和检测之用,可测量导线每米长度电阻、体电阻率和质量电阻率。
电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(专利),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之
导体电阻率测定仪
GEST-125
导体电阻率
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半导体电阻率测定仪
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炭素材料电阻率测定仪
GEST-122
电阻率
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石油焦粉末电阻率测定仪
GEST-124
电阻率
触摸屏
2、测量防静电材料的电阻及电阻率
3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值
通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,电****电阻率测试仪使用式样大小,即使测量电压、被测量电阻、
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头,也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。 《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下: 直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.
四探针电阻率测试仪m-6测试方法-冠测精电由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。北京冠测精电仪器设备有限公司(www.guance17.cn)在试验机这一领域倾注了无限的热忱和热情,冠测精电一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场,衷心希望能与社会各界合作,共创成功,共创*。相关业务欢迎垂询,联系人:管玉杰。
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