低频介质损耗测试仪厂家报价-冠测精电(****商家)

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为****材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻*测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，低频介质损耗测试仪厂家报价，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进

■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进

■ 基本准确度0.1%

■ 高达200次/s的测量速度

■ 320×240点阵大型图形LCD显示

■ 五位读数分辨率

■ 可测量22种阻*参数组合

■ 四种信号源输出阻*

■ 10点列表扫描测试功能

■ 内部自带直流偏置源

■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)

■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

■ V、I测试信号电平监视功能

■ 图形扫描分析功能

■ 中英文可选操作界面

■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

简要介绍

广泛的测量对象

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻*参数评估和性能分析。

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

5．Q合格指示预置功能

预置范围：5～1000。

6．Q表正常工作条件

a. 环境温度：0℃～ 40℃；

b．相对湿度：lt;80％；

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

8．产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感9只；

c.夹具一套

9、样品尺寸：直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM 厚度为0.5-15MM

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

五、随机配置

1、主机：1台

2、测试电****：1套

3、数据线：1套

4、电源线：1根

5、合格证：一份

6、测试系统：一套

测试参数

C， L， R，Z，Y，X，B， G， D， Q， θ，DCR

测试频率

20 Hz～2MHz，10mHz步进

测试信号电

f≤1MHz

10mV～5V，±（10% 10mV）

平

fgt;1MHz

10mV～1V，±（20% 10mV)

表征介质在外电场作用下****化程度的物理量叫介电常数．（在交变电场作用下，介质的介电常数是复数，虚数部分反映了介质的损耗）．实际上，介电常数并不是一个不变的数，在不同的条件下，其介电常数也不相同．

介电常数(又称电容率)，以ε表示，ε=εr*ε0，ε0为真空绝介电常数，ε0=10^(-9)/(36*pi)=8.85*10^(-12) C^2/(N*M^2)。需要强调的是，一种材料的介电常数值与测试的频率密切相关。

介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，介质中的电场减小与原外加电场(真空中)的比值即为相对介电常数(relative permittivity或dielectric c*tant)，又称诱电率，与频率相关。介电常数是相对介电常数与真空中绝介电常数乘积。如果有高介电常数的材料放在电场中，电场的强度会在电介质内有可观的下降。理想导体的相对介电常数为无穷大。