冠测精电(多图)-绝缘材料介电常数测试仪操作视频技术参数

近十年来，半导体工业界对低介电常数材料的研究日益增多，材料的种类也五花八门。然而这些低介电常数材料能够在集成电路生产工艺中应用的速度却远没有人们想象的那么快。其主要低介电常数薄膜机械性质量测结果 原因是许多低介电常数材料并不能满足集成电路工艺应用的要求。图2是不同时期半导体工业界预计低介电常数材料在集成电路工艺中应用的前景预测。

【北京冠测精电仪器设备有限公司】专注于材料电学性能检测仪器研发10年，介电常数测试仪分类操作流程，为客户提供一站式电学性能检测方案：介电强度测试仪、导体﹨半导体﹨粉体﹨绝缘体电阻率测试仪、介电常数测试仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕试验仪、电线电缆漏电起痕试验仪、阻温函数仪、介电温谱测量系统等

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值更为精。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻*等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

一、

仪器的技术指标

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023。

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c．标称误差

项 目

GCSTD-A

频率范围

20kHz～50MHz；

炭素材料电阻率测定仪

GEST-122

电阻率

触摸屏

石油焦粉末电阻率测定仪

GEST-124

电阻率

触摸屏

回路电阻测定仪

HLD-100A

回路电阻

数字

高温耐压试验仪

DDJT-10KV-150KV

高温耐压

温度和电压范围可选

电阻温度特性测定仪

GCWRT-II

电阻温度特性

微机控制

介电温谱特性测定仪

GCWP-A

温谱、频谱

温度和频率范围可选