射线测厚仪-测厚仪-测厚仪品牌

江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

电镀液测量杯整套含两个测量杯，可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用，高纯元素本底****测量精度和检出限。电镀液测试样品杯，严格控制了容量和溢出物的处理，用来测试药水溶液中金属离子的浓度；使用方便简捷，镀银测厚仪，*。

测试膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，涂层厚度仪，迈拉膜，麦拉膜，XRF测试薄膜，XRF样品膜，样品薄膜，EDX薄膜，EDX样品薄膜，ROHS检测膜，光谱仪样品薄膜；是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。*样品薄膜是使用方便简捷，*的测试用样品薄膜，广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们****的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、****的解谱方法和EFP算法结合*****及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，测厚仪，属于典型*性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，射线测厚仪，电解液耗损大，目*般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中*种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测****薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。