芯片镀层测厚仪-涂镀层测厚仪-测厚仪

江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

性能优势：

下照式设计：可以快速方便地*对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

****率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

EFP****算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，五金电镀测厚仪，相对接触式测厚仪更****，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、****的解谱方法和EFP算法结合*****及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对*进*检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，测厚仪，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，复合镀层测厚仪，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou xuan器之一。

一六仪器 光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，多小多复杂的样品轻松搞定，欢迎来电咨询!

激光测厚仪一般可以测量到多少的厚度

激光测厚仪测量产品的厚度，对于较大能够测量多大的厚度来说，芯片镀层测厚仪，我们就应该先了解下激光测厚仪的技术参数，如果想要更准确点，那就可以直接咨询厂家：

测厚原理

测厚模块由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。

激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更准准，不会因为磨损而损失精度。