达克罗测厚仪、测厚仪、锌镍合金测厚仪

一． 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪

长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，达克罗测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用****广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐*。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固*、不用电源，凹槽测厚仪，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

测厚仪操作时候需要注意的：

技术指标：

1 分析元素范围：Cl（17）-U（92）

2 同时可分析多达5层镀层以上

3 分析厚度检出限高达0.01μm

4 多次测量重复性高可达0.01μm

5测量时间：5s-300s

6 计数率：0-8000cps

测厚仪操作流程

打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压*-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告

（一）、外部结构原理图

X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。

（二）、各种外部结构的特点

1、上照射方式

用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。

①、Z轴的移动方式

根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；

自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，测厚仪，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可*。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前****主流的分析设备类型。

②、X、Y轴水平移动方式

水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。

这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，复合镀层测厚仪，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，*比较容易的测试对象。