通化石墨电****电阻率怎么测?操作说明,北京冠测

便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

本仪器按照半导体材料电阻率的国际及*标准测试方法有关规定设计。

它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。

为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω?cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到*标准*机的水平。

测量范围：

可测量 电阻率：0.01～199.9Ω?cm。

可测方块电阻：0.1～1999Ω/口

当被测材料电阻率≥200Ω?cm数字表显示0.00。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头，也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。

? 硬件系统

由插卡和数据处理器板组成，插卡可以是 8 通道的测量卡或 40 路报

警输出的报警卡。每张测量卡上有*的处理器和 AD 转换器，测石墨电****电阻率详情，对 8 路通道信

号进行轮询式测量。处于插槽的插卡可以实现高速通讯模式。

? 测量信号

直流电阻，它的量程范围为 300mΩ～300kΩ，可以测试 10?Ω～320kΩ的电阻，

大显示 32000 数。测试速度30 次/秒。

? 数据保存功能

测量数据按照定的周期写入内存。内存中的数据可以自动或手动保存到 U 盘。

? 显示功能

对每个通道的测量数据可以进行数字显示。并且，还可以在总览画面中同时显

示并监测所有的测量通道。

? 通讯功能

用户可以通过 RS232/RS485 接口和上位机进行通讯，使用协议为 MODBUS 协议。

? 应用场合

UC2517MX 可测量各种高、中、低值电阻器；各种开关接触电阻；接插件接触电

阻；继电器线包和触点电阻；变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻；导

线电阻；车、船、飞机的金属铆接电阻；印制版线条和孔化电阻等。