镀银测厚仪|测厚仪|复合镀层测厚仪

1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-标准75W(4-50kV，0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸

2滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，管脚镀层测厚仪，****样品碰创探测器窗口

3准直器程控交换系统****多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形，镀银测厚仪，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)

5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰*移自动校正功能的高速信号处理电路

6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时，测厚仪，152.4mmXY轴手动时，269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

一、简单原理

每个元素受高能辐射激发，即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长，即可知道是那种元素（定性）；通过分析测试其强度，得出该元素含量（定量）。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，

二、应用领域

X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：

1.镀层行业

电镀行业尤其以工业电镀为主，在工业生产中，通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属，这种金属电镀的膜厚往往是受管控，而X荧光光谱仪就是其best的管控者。

2.*检测

我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联，但这其中也许就含有对我们*是*的*，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致*的病变甚至*，为了使用安全，工业生产时需对产品*检测管控（RoHS检测），而X荧光仪器就能对其进行监测。

3.元素成分分析

元素成分分析应用也是更加广泛，如岩石矿产的开发开采，钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质，为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量，通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品，另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。

4.古董的检测

X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用，通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分，从而对产品的年限进行一个判断，得出结论。

一． 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪

长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用****广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐*。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固*、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。