测厚仪,荧光光谱测厚仪,X荧光膜厚仪

常见几种测厚仪的工作原理是什么：

2、测厚仪原理--X射线测厚仪

X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，光谱测厚仪，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

3、测厚仪原理--超声波测厚仪

超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，X荧光膜厚仪，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。

什么是涂层测厚仪

什么是涂层测厚仪？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么我们在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解，那么这次就先来了解下涂层测厚仪的概念。

涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

江苏一六仪器有限公司是一家拥有****的技术，you秀的良将，严格的企业管理的公司。一六仪器、一liu品质，测厚仪，各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

测厚仪主要类型

用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。