IC芯片高速缺陷检测机|高速缺陷检测机|实力厂家

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名称上海迈迅威视觉科技有限公司【公司网站】
所在地中国
联系人 范纯英
价格面议点此议价
采购量不限制
发布日期 2018-08-31 20:20 至长期有效

热线：13816422786

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检测10PF～0.01μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用R×1k挡。两只三****管的β值均为100以上，且穿透电流要小。可选用3DG6等型号硅三****管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射****e和集电****c相接。由于复合三****管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。应注意的是：在测试操作时，微型零部件高速缺陷检测机，特别是在测较小容量的电容时，IC芯片高速缺陷检测机，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。对于0.01μF以上的固定电容，可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。

电容式传感器一般是将被测量的变化量转换为电容量的变化。目前，基于这种原理的各种类型的传感器已在测量加速度、液位、几何孔径等方面得到了广泛的应用。但以电容为变化量的传感器（尤其是MEMS传感器），其电容变化范同往往只有几个pF，高速缺陷检测机，甚至几个fF。这便对电容检测的精度提出了很高的要求，尤其是在传感器的研发过程中，

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