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探针是IC测试治具中非常重要的一个部分，那么IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？

IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的*弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A 等几种类型。W，深圳治具，ReW弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。而A 材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，治具订做，免清洗，因此寿命较长。

IC测试治具的探针主要用于PCB板测试，主要可分为弹簧针(*针)和通用针。

弹簧针在使用时，需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，治具加工，一个模具只能测试一种PCB板； 通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。

IC测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的IC测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。

IC测试座自动组装装置包括哪些?以下是详细内容：

电控箱，用于控制IC测试座自动组装装置的工作流程;

Y向运动系统，过炉治具，Y向运动系统上设有Y向运动槽;

X向运动系统，X向运动系统与Y向运动系统滑动连接，X向运动系统上设有X向运动槽、以及用于沿Y向运动槽运动的一导轨;

翻盖拨叉及取片系统，翻盖拨叉及取片系统与X向运动系统滑动连接，翻盖拨叉及取片系统上设有用于沿X向运动槽运动的第二导轨;

插座盘，插座盘包括测试座夹具板及位于测试座夹具板上的若干测试座;

翻盖及合盖装置，翻盖及合盖装置与翻盖拨叉及取片系统固定连接并与插座盘滑动连接。