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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第二,上海测厚仪,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,测厚仪排名,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。

第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。







X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

我们要保证生产的产品厚度上是否可以,那么X射线测厚仪测量的精度是否准确就非常重要了,如果X射线测厚仪的测量精度发生了偏差,那么生产出来的产品就不会****!由此可知测厚仪的测量精度有多么重要,因此,这次在这与大家分享下X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些:

首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响;

第二,测厚仪品牌,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量;

第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度;

第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。



测厚仪分类:

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式(库伦法)

五、金相测试法

六、非*荧光式(*)

具体讲下涡流测厚仪原理如下:

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻*发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻*的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。


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