北京冠测(多图)|硫化橡胶 绝缘电阻率的测定怎么样

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，硫化橡胶电阻率测试仪精华，适合手持式变动场合操作使用！ 探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头，也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率 电 阻： 0.010 ～ 9999Ω， 分辨率0.001 ～ 1 Ω 电 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm 方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□2. 材料尺寸 手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定 直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.