江苏一六仪器有限公司(多图),上海精密膜厚仪

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用*的涂层测厚仪测量氧化层，精密膜厚仪，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

膜厚仪光学监1控是高精致镀膜的的首1选监1控方式，这是因为它能够更准确地把持膜层厚度(如果利用切当)。精1确度的改进源于很多因素，但****基础的起因是对光学厚度的监1控。对单波长光学监1控体系，是采用间接测控，结合****光学监1控软件，有效****光学反应对膜厚度变革灵敏度的实际跟措施来减少终1****误差，供应了反馈或传输的决定模式跟大范围的监测波长。特别适合于各种膜厚的镀膜监1控包括非规整膜监1控。