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*的使用电容触摸键盘CTS技术设计,有丰富的触感和声感,操作简单,美观大方。

仪表试样试验数据能进行自动运算和处理,并符合GB/T3048.2-2007标准。 若使用通讯软件还可以与微机连接,实现微机化管理。内部电路采用双微机处理器,24位*AD转换器,智能化程度*优越,表面电阻率测定仪点击,具有测量精度高,可靠性好,操作简便等诸多特点。

仪表采用面板调校操作,无需打开仪表进行任何的机内调整。用户操作好学易记。

测量方式:手动测量和自动测量,可选



探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头,也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。 《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下: 直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.


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