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摘要 : 深圳市强元芯是台湾ASEMI品牌在大陆的总代理商,专营整流桥堆、肖特基二****管、快恢复二****管。从今日起,来强元芯购买快恢复二****管MURF2040CT,我们不要利润只要您的信任,就是这么任性!

导读:深圳市强元芯是台湾ASEMI品牌在大陆的总代理商,专营整流桥堆、肖特基二****管、快恢复二****管。从今日起,来强元芯购买快恢复二****管MURF2040CT,我们不要利润只要您的信任,就是这么任性!

12年****生产MURF2040CT,让您安心的强元芯!

台湾ASEMI品牌快恢复二****管,贴片二****管型号参数表,系属TO-220塑封封装,强元芯拥有170人研发团队和8500㎡肖特基生产厂房,快恢复二****管均采用俄罗斯Mikron芯片,引进28条台湾健鼎全新测试线,只为确保快恢复二****管的高可靠性,让您更加放心。

参数20A400V,正向电流可达20A,正向电压达1.10V,恢复时间快达35ns,工作温度可达-40℃~ 175℃。

产品细节可见下图。

我们只要您的信任,不求任何利润,我们就是这么任性!

强元芯12年来专营整流桥堆、肖特基二****管、快恢复二****管。其中,****受广大客户欢迎的快恢复二****管MURF2040CT,被广泛应用于开关电源、变频器、驱动器等电路,作高频、低压、大电流整流二****管、续流二****管、保护二****管使用,或在微波通信等电路中作整流二****管、小信号检波二****管使用。

我们的质量,不是您该担心的问题;您的信任,是我们****期待的结局!即日起,到强元芯来购买快恢复二****管MURF2040CT,我们保证高质、我们也保证低价、我们保证********服务!就是这么任性!

深圳市强元芯电子有限公司,12年专注于电源领域,贴片肖特基二****管正负,致力于半导体行业,坚持“客户至上”的经营理念,我们用心,只为让你放心。







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摘要 : 导读:在ASEMI半导体满足你对晶圆的好奇心,全部术语就在这里(上),ASEMI半导体为大家介绍了将近50个晶圆的****术语,一时间介绍太多怕大家接受不了,但是有好东西ASEMI半导体还是


导读:在ASEMI半导体满足你对晶圆****的好奇心,全部术语就在这里(上),ASEMI半导体为大家介绍了将近50个晶圆的****术语,肖特基二****管,一时间介绍太多怕大家接受不了,但是有好东西ASEMI半导体还是毫不吝啬跟大家分享的,这不,又来啦~

凹槽 - 没有被完全清除的擦伤;手工印记 - 为区分不同的晶圆片而手工在背面做出的标记;雾度 - 晶圆片表面大量的缺陷,常常表现为晶圆片表面呈雾状;空穴 - 和正电荷类似,是由缺少价电子引起的;晶锭 - 由多晶或单晶形成的圆柱体,晶圆片由此切割而成;激光散射 - 由晶圆片表面缺陷引起的脉冲信号;光刻 - 从掩膜到圆片转移的过程;局部光散射 - 晶圆片表面特征,例如小坑或擦伤导致光线散射,肖特基二****管电路图,也称为光点缺陷。

批次 - 具有相似尺寸和特性的晶圆片一并放置在一个载片器内;多数载流子 - 一种载流子,在半导体材料中起支配作用的空穴或电子;机械测试晶圆片 - 用于测试的晶圆片;微粗糙 - 小于100微米的表面粗糙部分;索指数 - 三个整数,用于确定某个并行面。这些整数是来自相同系统的基本向量;小条件或方向 - 确定晶圆片是否合格的允许条件;堆垛 - 晶圆片表面超过0.25毫米的缺陷;桔皮 - 可以用肉眼看到的粗糙表;颗粒 - 晶圆片上的细小物质;颗粒计算 - 用来测试晶圆片颗粒污染的测试工具;颗粒污染 - 晶圆片表面的颗粒。

深坑 - 一种晶圆片表面无法消除的缺陷;点缺陷 - 不纯净的晶缺陷;测试晶圆片 - 影印过程中用于颗粒计算、测量溶解度和检测金属污染的晶圆片;主*边 - 晶圆片上****长的*边;加工测试晶圆片 - 用于区域清洁过程中的晶圆片;糙度 - 晶圆片表面间隙很小的纹理;第二*边 - 比主*边小的*边,它的位置决定了晶圆片的类型和晶向;局部表面 - 晶圆片前面上平行或垂直于主*边方向的区域;表面纹理 - 晶圆片实际面与参考面的差异情况;测试晶圆片 - 用于生产中监测和测试的晶圆片;顶部硅膜厚度 - 顶部硅层表面和氧化层表面间的距离;顶部硅膜 - 生产半导体电路的硅层,位于绝缘层顶部;总计指示剂数(TIR) - 晶圆片表面位面间的****短距离。


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