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菲希尔测厚仪|正业科技上市企业|菲希尔测厚仪价格

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菲希尔测厚仪|正业科技上市企业|菲希尔测厚仪价格

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菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U

菲希尔X射线荧光测厚仪SDV-U*微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接*整的样品。



菲希尔X射线荧光测厚仪XDV-Vacuum

菲希尔X射线荧光测厚仪XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用****机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。*的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以**样品位置和测量细小部件。



菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品


菲希尔X射线荧光测厚仪XDLM产品比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)


我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。



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