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HPF系列微型光纤光谱仪用于荧光检测和薄膜厚度的检测



荧光测量的光信号一般比较微弱,需排除激发光对测试结果的影响,因此一般采用大狭缝、灵敏的探测器和****率的滤光片。标准的激发光源采用脉冲氙灯或激光。

薄膜厚度测量系统测量的数据是样品对不同波长反射率曲线,这样就可以在已知薄膜厚度、折射率二者之一的情况下推导出另一者。


HPF微型光谱仪参数



捷扬光电HPF系列光谱仪通过对物质和光波相互作用的分析,几乎不受工作环境和测量物质状态的影响,能够准确地测出物质的成份和含量。光电探测器的发展促使微型光谱仪的测量范围覆盖了从紫外到红外波段。

HPF系列光谱仪和传统光谱仪相比,微型光谱仪的分辨率较低,但由于它体较小、价格便宜等优点广泛应用于许多测量、控制领域。



HCE光谱仪测量LED光谱

****简单而且迅速地测量LED的整个光通量的方法就是使用一个积分球,并把它连接到一个捷扬光电的HCE光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标,然后用捷扬光电光谱分析软件从测量到的光谱分布计算出相关参数,并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μW/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数:辐射量μW/cm2, μJ/cm2, μW或μJ;光通量lux或lumen,色轴X, Y, Z, x, y, z, u, v和色温。


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